Til hovedinnhold
Norsk English

Joachim Seland Graff

Forskningsingeniør

Joachim Seland Graff
982 30 473
Kontorsted:
Oslo

Ansatt i SINTEF siden 2007 og har over 15 års erfaring med karakterisering av materialer, prøvepreparering, drift og vedlikehold av vitenskaplig utstyr og materialforskning på en rekke ulike materialtyper.

Utdanning

2006: Cand. Scient. Fysisk institutt, Univeritetet i Oslo.
Hovedoppgave om strukturbestemmelse av en AlSiMn fase ved hjelp av hovedsaklig transmisjonselektronmikroskop (TEM)

Kompetanse og fagområder

Materialkarakterisering.
Sveipelektronmikroskopi (SEM), inkl Energidispersivt Spektrometer (EDS) og elektron tilbakesprettdiffraksjon (EBSD).
Prøvepreparering for elektronmikroskopi.
Topografimålinger med hvittlysinterferometri (WLI).
Optisk mikroskopi.
Automatisering av utstyr vha. enkel programmering i Python.

Med disse teknikkene karakteriserer jeg materialer i flere kategorier: Keramer, metaller, halvledere, og polymerer.

Kontaktinformasjon

Besøksadresse:
Forskningsveien 1
Oslo