TEM-teknikker
Forskningsgruppen vår ved SINTEF benytter et bredt spekter av avanserte teknikker innen transmisjonselektronmikroskopi (TEM) for å undersøke materialer på nanoskala. Disse metodene gir enestående presisjon for studier av struktur, sammensetning og egenskaper.
Kontaktpersoner
Muligheter
- Høyoppløselig TEM (HRTEM): Direkte avbildning av atomær struktur i krystallinske materialer. Essensielt for analyse av defekter, grensesnitt og nanostrukturer.
- Sveipe-TEM (STEM): Kombinerer sveiping med fokusert elektronstråle og høyvinkel-detektorer for detaljert kontrast og sammensetningskart. Muliggjør høyoppløselige analytiske teknikker som EDS og EELS.
- Elektrondiffraksjon: Bestemmer krystallstruktur, orientering og faseidentifikasjon ved analyse av elektronspredning—ideelt for nanokrystallinske eller komplekse materialer.
- Energidispersiv røntgenspektroskopi (EDS): Grunnstoffanalyse og kartlegging på nanoskala ved bruk av karakteristisk røntgenemisjon.
- Elektronenergitapsspektroskopi (EELS): Måler energitapet til elektroner som passerer gjennom en prøve. Monokromatisert EELS gir forbedret energioppløsning for analyse av kjemiske bindinger, elektronstruktur og lette grunnstoffer.
Bruksområder
- Avbildning på atomnivå av defekter og grensesnitt
- Sammensetningskartlegging av heterogene materialer
- Krystallografisk analyse av nanostrukturer
- Studier av elektronstruktur i tynne filmer og belegg
