Til hovedinnhold
Norsk English

Krav til TEM-prøver

Høy kvalitet av resultater innen transmisjonselektronmikroskopi (TEM) avhenger av korrekt prøvepreparering. Prøvene må være elektrontransparente, vanligvis under 100 nm i tykkelse, for å muliggjøre effektiv avbildning og analyse.

Kontaktpersoner

Figur: SINTEF

Materialer vi arbeider med

  • Metaller og legeringer
  • Halvledere
  • Keramer
  • Polymerer
  • Nanomaterialer

Preparasjonsmetoder

Vi tilbyr veiledning og støtte for prøvepreparering ved bruk av:

  • Mekanisk tynning og polering: For bulk-materialer.
  • Ionefresing: Produserer skadefrie, tynne seksjoner.
  • Fokusert ionestråle (FIB): Stedsspesifikk preparering for komplekse strukturer.
  • Dråpestøping eller montering på grid: For nanopartikler og myke materialer.

Trenger du hjelp?

Hvis du er usikker på om prøven din er egnet for TEM, kontakt oss for å diskutere prepareringsstrategier tilpasset ditt materiale og dine forskningsmål.

Prøveholder med Cu-netting for TEM. Foto: Annett Thøgersen
TEM-prøve av tverrsnitt på en kobberring (pusset og Ar-polert). Foto: Annett Thøgersen
Planar TEM-prøve på en kobberring (pusset og Ar-polert). Foto: AnnettThøgersen