Transmisjonselektronmikroskopi (TEM)
Hos SINTEF tilbyr vi avanserte TEM-tjenester som en del av den nasjonale NORTEM-infrastrukturen, med tilgang til instrumentering i verdensklasse og ekspertise innen materialkarakterisering på atomnivå.
Kontaktpersoner
Hva er TEM?
Transmisjonselektronmikroskopi bruker en elektronstråle med høy energi som sendes gjennom en ultratynn prøve for å oppnå oppløsning på atomnivå. Denne teknikken avslører krystallstruktur, kjemisk sammensetning og defekter som styrer materialegenskaper—informasjon som er umulig å oppnå med konvensjonell mikroskopi.
Våre instrumenter
- JEOL 2100F: Et allsidig felt-emisjons-TEM for høyoppløselig avbildning og analytisk arbeid.
- ThermoFisher Titan G2 60-300: I drift frem til 2026.
- Kommer snart – JEOL Mono ARM: Neste generasjon TEM med forbedret avbildning, spektroskopi og analytisk ytelse.
Muligheter
- Høyoppløselig avbildning: Visualisering på atomnivå av defekter, grensesnitt og nanostrukturer.
- Krystallografisk analyse: Elektrondiffraksjon for faseidentifikasjon og orienteringskartlegging.
- Kjemisk kartlegging: Grunnstoff- og bindingsanalyse med EDS og monokromatisert EELS.
- Avanserte teknikker: STEM, HRTEM og in-situ-eksperimenter under kontrollerte miljøer.
- Inert prøvetransport: Mulighet til å flytte prøver fra fabrikasjon i FIB, via hanskeboks, til TEM.
Bruksområder
- Nanoteknologi og energimaterialer
- Metallurgi og halvledere
- Tynne filmer, belegg og grensesnitt
- Feilanalyse og avansert materialdesign
Hvorfor det er viktig
TEM er avgjørende for nanoteknologi, energimaterialer og halvledere, der ytelsen avhenger av egenskaper på atomnivå. Ved å kombinere avbildning, diffraksjon og spektroskopi gir TEM innsikt som driver innovasjon innen avanserte materialer og komponenter.
Utforsk mer:
