Til hovedinnhold
Norsk English

Operando fotoelektronspektroskopi (XPS)

Å forstå hvordan materialer oppfører seg under reelle driftsbetingelser er avgjørende for utvikling av avanserte funksjonelle systemer. Operando XPS gjør det mulig å studere overflatekjemi og elektronstruktur under aktive prosesser som katalyse, korrosjon og utstyr under bruk.

Kontaktperson

XPS analysekammer. Foto: Annett Thøgersen

Hva er Operando XPS?

Operando XPS kombinerer tradisjonell XPS-analyse med kontrollerte omgivelser som etterligner virkelige forhold. Ved å utføre målinger nær atmosfærisk trykk eller i reaktive gasser kan vi overvåke kjemiske og elektroniske endringer mens de skjer.

Muligheter

  • Nær atmosfærisk trykk XPS (NAP-XPS): Utføres ved synkrotronanlegg for høyoppløselige analyser under realistiske forhold.
  • Sanntidsovervåking: Sporer kjemiske tilstander og reaksjonsintermediater under aktive prosesser.
  • Miljøfleksibilitet: Undersøker overflater under gass, væske, lys eller elektrisk spenning.
  • Korrelasjon med ytelse: Knytter elektronstruktur og overflatesammensetning til funksjonell oppførsel.

Bruksområder

  • Fotokatalytiske reaksjoner og energikonverteringsprosesser
  • Studier av gass-faststoff- og væske-faststoff-grensesnitt
  • Korrosjon og beskyttende belegg
  • Dynamiske overflateomvandlinger i elektroniske komponenter

Hvorfor det er viktig

Operando XPS gir innsikt som statiske målinger ikke kan—og hjelper til med å utvikle bedre katalysatorer, energimaterialer og funksjonelle overflater. Vår ekspertise innen prøvepreparering, eksperimentdesign og dataanalyse sikrer meningsfulle resultater for både akademiske og industrielle partnere.