Til hovedinnhold
Norsk English

Characterization of thin and ultrathin transparent conducting oxide (TCO) films and TCO-Si interfaces with XPS, TEM and ab initio modeling

Kategori

Vitenskapelig artikkel

Språk

Engelsk

Forfatter(e)

Institusjon(er)

  • SINTEF Industri
  • Universitetet i Oslo
  • SINTEF Industri / Materialer og nanoteknologi
  • SINTEF Digital / Microsystems and Nanotechnology
  • SINTEF Industri / Metallproduksjon og prosessering

År

2010

Publisert i

Surface and Interface Analysis

ISSN

0142-2421

Årgang

42

Hefte nr.

6-7

Side(r)

874 - 877

Vis denne publikasjonen hos Cristin