Characterization of thin and ultrathin transparent conducting oxide (TCO) films and TCO-Si interfaces with XPS, TEM and ab initio modeling

Forfatter(e)

• Spyros Diplas
• Ole Martin Løvvik
• Heidi Nordmark
• Despoina Maria Kepaptsoglou
• Joachim Seland Graff
• Cecile Ladam
• Frode Tyholdt
• John Walmsley
• Anette Eleonora Gunnæs
• Ragnar Fagerberg
• Alexander G. Ulyashin

Institusjon(er)

• SINTEF Industri / Metallproduksjon og prosessering
• SINTEF Industri / Materialer og nanoteknologi
• SINTEF Digital / Smart Sensors and Microsystems
• Universitetet i Oslo

Hefte nr.

6-7

DOI