Fokusert ionestråle - sveipeelektronmikroskopi (FIB-SEM)
I 2025 oppgraderte vi til en TESCAN SOLARIS FIB-SEM-plattform som kombinerer høyoppløselig elektronmikroskopi med presis ionefresing. Dette muliggjør avansert prøvepreparering og analyse på mikro- og nanoskala.