X-ray photoelectron spectroscopy study of MgH2 thin films grown by reactive sputtering
Kategori
Vitenskapelig artikkel
Språk
Engelsk
Forfatter(e)
- Ingvild Julie Thue Jensen
- Spyridon Diplas
- Ole Martin Løvvik
- J Watts
- S Hinder
- H Schreuders
- B Dam
Institusjon(er)
- Universitetet i Oslo
- Ukjent
- SINTEF AS
- University of Surrey
- Technische Universiteit Delft
År
2010Publisert i
Surface and Interface Analysis
ISSN
0142-2421
Årgang
42
Hefte nr.
6-7
Side(r)
1140 - 1143