Til hovedinnhold
Norsk English

X-ray photoelectron spectroscopy study of MgH2 thin films grown by reactive sputtering

Kategori

Vitenskapelig artikkel

Språk

Engelsk

Forfatter(e)

Institusjon(er)

  • Universitetet i Oslo
  • Ukjent
  • SINTEF AS
  • University of Surrey
  • Technische Universiteit Delft

År

2010

Publisert i

Surface and Interface Analysis

ISSN

0142-2421

Årgang

42

Hefte nr.

6-7

Side(r)

1140 - 1143

Vis denne publikasjonen hos Cristin