Systematic characterization of key parameters of hermetic waferlevel Cu-Sn SLID bonding
Kategori
Vitenskapelig foredrag
Språk
Engelsk
Forfatter(e)
- H. J. van de Wiel
- Astrid-Sofie Vardøy
- G. Hayes
- M.H.M. Kouters
- Adri van der Waal
- M. Erinc
- Adriana Lapadatu
- Stian Martinsen
- Maaike Margrete Visser Taklo
- H.R. Fischer
Institusjon(er)
- Ukjent
- SINTEF Digital / Smart Sensors and Microsystems
- Norges teknisk-naturvitenskapelige universitet
Presentert på
European Microelectronics and Packaging Conference
Sted
Grenoble
Dato
09.09.2013 - 12.09.2013
Arrangør
iMAPS