Characterization of hermetic wafer-level Cu-Sn SLID bonding
Kategori
Vitenskapelig Kapittel/Artikkel/Konferanseartikkel
Språk
Engelsk
Forfatter(e)
- Hubertus Johannes van de Wiel
- Astrid-Sofie Vardøy
- Gregory Hayes
- Hartmut Fischer
- Adriana Lapadatu
- Maaike Margrete Visser Taklo
Institusjon(er)
- TNO - Nederlandse Organisatie voor toegepast-natuurwetenschappelijk onderzoek
- SINTEF Digital / Smart Sensors and Microsystems
- SensoNor ASA
År
2012Forlag
IEEE conference proceedings
Bok
4th Electronics System-Integration Technology Conference (ESTC 2012)
ISBN
978-1-4673-4645-0