Til hovedinnhold
Norsk English

Characterization of SINTEF 3D diodes with trenched-electrode geometry before and after neutron irradiation

Kategori

Vitenskapelig artikkel

Språk

Engelsk

Forfatter(e)

Institusjon(er)

  • Istituto Nazionale di Fisica Nucleare
  • SINTEF Digital / Smart Sensors and Microsystems
  • Università degli Studi di Trento

År

2020

Publisert i

Journal of Instrumentation (JINST)

ISSN

1748-0221

Forlag

IOP Publishing

Årgang

15

Hefte nr.

2

Side(r)

1 - 9

Vis denne publikasjonen hos Cristin