Til hovedinnhold
Norsk English

TEM image simulations of overlapping phases - a case study of sheared β” precipitates in Al-Mg-Si alloys

Kategori

Konferanseforedrag

Språk

Engelsk

Forfatter(e)

Institusjon(er)

  • SINTEF Industri / Materialer og nanoteknologi
  • Norges teknisk-naturvitenskapelige universitet

Presentert på

EMAG

Sted

Manchester

Dato

01.07.2019 - 04.07.2019

Arrangør

Institute of Physics, Electron Microscopy and Analysis Group

År

2019

Vis denne publikasjonen hos Nasjonalt Vitenarkiv