Til hovedinnhold
Norsk English

Guidelines for establishing an etching procedure for dislocation density measurements on multicrystalline silicon samples

Les publikasjonen

Kategori

Vitenskapelig artikkel

Språk

Engelsk

Forfatter(e)

  • Krzysztof Jan Adamczyk
  • Gaute Stokkan
  • Marisa Di Sabatino Lundberg

Institusjon(er)

  • Norges teknisk-naturvitenskapelige universitet
  • SINTEF Industri / Bærekraftig energiteknologi

År

2018

Publisert i

MethodsX

ISSN

2215-0161

Forlag

Elsevier

Årgang

5

Side(r)

1178 - 1186

Vis denne publikasjonen hos Cristin