Til hovedinnhold

Photoluminescence imaging for characterization of silicon material and solar cell devices

Photoluminescence imaging for characterization of silicon material and solar cell devices

Kategori
Vitenskapelig foredrag
Språk
Engelsk
Forfatter(e)
Institusjon(er)
  • SINTEF Digital / Microsystems and Nanotechnology
  • Ukjent
  • Universitetet i Oslo
Presentert på
Norwegian Electro-optics meeting 2014
Dato
23.04.2014 - 23.04.2014
År
2014