Til hovedinnhold

Test beam characterization of irradiated SINTEF 3D pixel sensors

Test beam characterization of irradiated SINTEF 3D pixel sensors

Kategori
Faglig foredrag
Oppdragsgiver
  • Research Council of Norway (RCN) / 269752
  • Research Council of Norway (RCN) / 255182
Språk
Engelsk
Forfatter(e)
Institusjon(er)
  • Universitetet i Oslo
  • Universitetet i Bergen
  • Ukjent
  • SINTEF Digital / Microsystems and Nanotechnology
Presentert på
14th Trento Workshop on Advanced Silicon Radiation Detectors
Dato
25.02.2019 - 27.02.2019
År
2019