Til hovedinnhold
Norsk English

Near infrared low coherence speckle interferometry (NIR-LCSI) as a tool for the investigation of silicon in solar cell production

Les publikasjonen

Kategori

Vitenskapelig artikkel

Språk

Engelsk

Forfatter(e)

  • Kay Gastinger
  • Lars Johnsen

Institusjon(er)

  • SINTEF Digital / Smart Sensors and Microsystems

År

2010

Publisert i

Proceedings of SPIE, the International Society for Optical Engineering

ISSN

0277-786X

Årgang

7387

Vis denne publikasjonen hos Nasjonalt Vitenarkiv