Frame by Frame Wavelet Decomposition of Electrical Capacitance Values for Real Time Tomometric Applications
Kategori
Vitenskapelig Kapittel/Artikkel/Konferanseartikkel
Språk
Engelsk
Forfatter(e)
- Ru Yan
- Saba Mylvaganam
Institusjon(er)
- Universitetet i Sørøst-Norge
- SINTEF Industri / Prosessteknologi
År
2011Forlag
IEEE Press
Bok
IEEE SENSORS 2011 Limerick, Irland 28-31 October University og Limerick Proceedings
ISBN
978-1-4244-9288-6
Side(r)
1851 - 1855