Microelectronics Technologies Scaling and Reliability A Comparison Study for High Temperature and Radiation Hard Applications
Kategori
Vitenskapelig artikkel
Språk
Engelsk
Forfatter(e)
- Ovidiu Vermesan
- Lars-Cyril Blystad
- Hanne Grindvoll
- Geir Uri Jensen
- Berit Sundby Avset
Institusjon(er)
- SINTEF Digital / Connectivity Technologies and Platforms
- Universitetet i Sørøst-Norge
- SINTEF Digital / Microsystems and Nanotechnology
- Ukjent
År
2001Publisert i
HiTEN
ISSN
2380-4491