Til hovedinnhold
Norsk English

Microelectronics Technologies Scaling and Reliability A Comparison Study for High Temperature and Radiation Hard Applications

Kategori

Vitenskapelig artikkel

Språk

Engelsk

Forfatter(e)

  • Ovidiu Vermesan
  • Lars-Cyril Blystad
  • Hanne Grindvoll
  • Geir Uri Jensen
  • Berit Sundby Avset

Institusjon(er)

  • SINTEF Digital / Connectivity Technologies and Platforms
  • Universitetet i Sørøst-Norge
  • SINTEF Digital / Microsystems and Nanotechnology
  • Ukjent

År

2001

Publisert i

HiTEN

ISSN

2380-4491

Vis denne publikasjonen hos Cristin