Til hovedinnhold
Norsk English

Interfacial atomic structure and electrical activity of nano-facetted CSL grain boundaries in high-performance multi-crystalline silicon

Kategori

Vitenskapelig artikkel

Språk

Engelsk

Forfatter(e)

Institusjon(er)

  • Norges teknisk-naturvitenskapelige universitet
  • SINTEF Industri / Materialer og nanoteknologi
  • SINTEF Industri / Bærekraftig energiteknologi

År

2020

Publisert i

Journal of Applied Physics

ISSN

0021-8979

Forlag

AIP Publishing (American Institute of Physics)

Årgang

127

Hefte nr.

12

Vis denne publikasjonen hos Cristin