Til hovedinnhold

Characterization of SINTEF 3D diodes with trenched-electrode geometry before and after neutron irradiation

Characterization of SINTEF 3D diodes with trenched-electrode geometry before and after neutron irradiation

Kategori
Vitenskapelig artikkel
Språk
Engelsk
Forfatter(e)
Institusjon(er)
  • Istituto Nazionale di Fisica Nucleare
  • SINTEF Digital / Microsystems and Nanotechnology
  • Università degli Studi di Trento
År
Publisert i
Journal of Instrumentation (JINST)
ISSN
1748-0221
Forlag
Institute of Physics Publishing (IOP)
Årgang
15
Hefte nr.
2
Side(r)
1 - 9