Til hovedinnhold
Norsk English

Assessment of feature engineering and long short-term memory for structure loss identification from process data in monocrystalline silicon growth by the Czochralski method

Kategori

Rapport

Oppdragsgiver

  • Research Council of Norway (RCN) / 257639

Språk

Engelsk

Forfatter(e)

Institusjon(er)

  • Norges teknisk-naturvitenskapelige universitet
  • SINTEF Industri / Metallproduksjon og prosessering

År

2019

Forlag

Department of Materials Science and Engineering, NTNU

Vis denne publikasjonen hos Cristin