Bandgap measurement of high refractive index materials by off-axis EELS
Kategori
Vitenskapelig artikkel
Oppdragsgiver
- Research Council of Norway (RCN) / 197405
- Research Council of Norway (RCN) / 228956
Språk
Engelsk
Forfatter(e)
- Maryam Vatanparast
- Ricardo Egoavil
- Turid Worren Reenaas
- Johan Verbeeck
- Randi Holmestad
- Per Erik Vullum
Institusjon(er)
- Norges teknisk-naturvitenskapelige universitet
- Universiteit Antwerpen
- SINTEF Industri / Materialer og nanoteknologi
Dato
19.06.2017
År
2017Publisert i
Ultramicroscopy
ISSN
0304-3991
Forlag
Elsevier
Årgang
182
Side(r)
92 - 98