Scanning Kelvin Probe Force Microscopy (SKPFM) applied to various conversion coatings

Forfatter(e)

• Bjørn Steinar Tanem
• Otto Lunder
• Ole Øystein Knudsen

Institusjon(er)

• SINTEF Industri / Materialer og nanoteknologi
• SINTEF Industri / Bioteknologi og nanomedisin
• SINTEF Industri / Prosessteknologi

Hefte nr.

45