Til hovedinnhold

Edge-on Detectors with Active Edge for X-Ray Photon Counting

Edge-on Detectors with Active Edge for X-Ray Photon Counting

Kategori
Vitenskapelig foredrag
Språk
Engelsk
Forfatter(e)
Institusjon(er)
  • SINTEF Digital / Microsystems and Nanotechnology
  • SINTEF Digital / Smart Sensor Systems
Presentert på
IEEE NSS-MIC
Sted
Valencia
Dato
23.10.2011 - 29.10.2011
Arrangør
IEEE
År