Til hovedinnhold
Norsk English

Edge-on Detectors with Active Edge for X-Ray Photon Counting

Kategori

Konferanseforedrag

Språk

Engelsk

Forfatter(e)

Institusjon(er)

  • SINTEF Digital / Smart Sensors and Microsystems

Presentert på

IEEE NSS-MIC

Sted

Valencia

Dato

23.10.2011 - 29.10.2011

Arrangør

IEEE

År

2011

Vis denne publikasjonen hos Nasjonalt Vitenarkiv