Til hovedinnhold

Electrical treeing from needle implants in XLPE during very low frequency (VLF) voltage testing

Electrical treeing from needle implants in XLPE during very low frequency (VLF) voltage testing

Kategori
Vitenskapelig Kapittel/Artikkel/Konferanseartikkel
Språk
Engelsk
Forfatter(e)
Institusjon(er)
  • Norges teknisk-naturvitenskapelige universitet
  • SINTEF Energi AS / Elkraftteknologi
År
Forlag
IEEE conference proceedings
Bok
Solid Dielectrics (ICSD), 2013 IEEE International Conference on
ISBN
978-1-4799-0807-3
Side(r)
800 - 803