Til hovedinnhold

Modeling Grain Boundary Impurity Segregation in Polycrystalline Silicon

Modeling Grain Boundary Impurity Segregation in Polycrystalline Silicon

Kategori
Faglig foredrag
Språk
Engelsk
Forfatter(e)
Institusjon(er)
  • SINTEF Industri / Metallproduksjon og prosessering
  • Norges teknisk-naturvitenskapelige universitet
Presentert på
5th Chinese-Norwegian Symposium on Light Metals and New Energy
Dato
09.10.2013 - 13.10.2013
År