Til hovedinnhold

ANALYSIS OF MULTI-CRYSTALLINE SILICON DEFORMATION DURING 4-POINT BENDING TEST BY FINITE ELEMENT MODELING

ANALYSIS OF MULTI-CRYSTALLINE SILICON DEFORMATION DURING 4-POINT BENDING TEST BY FINITE ELEMENT MODELING

Kategori
Vitenskapelig foredrag
Språk
Engelsk
Institusjon(er)
  • SINTEF Industri / Materialer og nanoteknologi
  • SINTEF Industri / Metallproduksjon og prosessering
Presentert på
3rd International Workshop on Crystalline Silicon Solar Cells
Sted
Trondheim
Dato
03.06.2009
Arrangør
SINTEF/NTNU
År