Joachim Seland Graff

Ansatt i SINTEF siden 2007 og har over 15 års erfaring med prøvepreparering og karakterisering av materialer, drift og vedlikehold av avansert vitenskaplig utstyr og materialforskning på en rekke ulike materialtyper.

Utdanning

2006: Cand. Scient. Fysisk institutt, Univeritetet i Oslo.
Hovedoppgave om strukturbestemmelse av en AlSiMn fase ved hjelp av hovedsaklig transmisjonselektronmikroskop (TEM)

Kompetanse og fagområder

Materialkarakterisering.

Sveipelektronmikroskopi (SEM), inkl
- Energidispersivt Spektrometer (EDS)
- Elektron tilbakesprettdiffraksjon (EBSD)
- Fokusert ionestråle (FIB)

Prøvepreparering, lysmikroskopi, topografimålinger med hvittlysinterferometri (WLI), automatisering av utstyr vha. enkel programmering i Python

Med disse teknikkene karakteriserer jeg flere typer materialer som keramer, metaller, silisium, polymerer som bruker på mange ulike områder.

ORCID

https://orcid.org/0000-0001-6072-1334