Texture characterization of quartz defects by combinding EPMA-cathodoluminescence and SEM-electron back scattering diffraction techniques
Kategori
Poster
Språk
Engelsk
Forfatter(e)
- Bjørn Eske Sørensen
- Morten Peder Raanes
- Yingda Yu
- Jarle Hjelen
- Wilhelm Dall
Institusjon(er)
- Norges teknisk-naturvitenskapelige universitet
- SINTEF Industri / Metallproduksjon og prosessering
Presentert på
15th European Microscopy Congress
Sted
Manchester, UK
Dato
16.09.2012 - 21.09.2012
Arrangør
RMS IFSM