Benefit of Microscopic Diffusion Measurement for the Characterization of Nanoporous Materials

Forfatter(e)

• J. Kärger
• J. Caro
• P. Cool
• M.-O. Coppens
• D. Jones
• F. Kapteijn
• F. Rodríguez-Reinoso
• Michael Wilhelm Stöcker
• D. Theodorou
• E.F. Vansant
• J. Weitkamp

Institusjon(er)

• Universität Leipzig
• Gottfried Wilhelm Leibniz Universität Hannover
• Universiteit Antwerpen
• Technische Universiteit Delft
• Rensselaer Polytechnic Institute
• Centre national de la recherche scientifique
• Universidad de Alicante
• SINTEF Industri / Prosessteknologi
• National Technical University of Athens
• Universität Stuttgart

Hefte nr.

10

DOI