TEM Characterization of near Sub-Grain Boundary Dislocations in Directionally Solidified Multicrystalline Silicon

Forfatter(e)

• Maulid Mohamed Kivambe
• Gaute Stokkan
• Torunn Ervik
• Birgit Ryningen
• Otto Lohne

Institusjon(er)

• Norges teknisk-naturvitenskapelige universitet
• SINTEF Industri / Bærekraftig energiteknologi

DOI