Til hovedinnhold
Norsk English

Characterisation of Beam Sensitive Quartz by Scanning TEM

Kategori

Poster

Oppdragsgiver

  • NORTEM / 197405

Språk

Engelsk

Forfatter(e)

  • Jochen Busam
  • Sigurd Wenner
  • Astrid Marie Muggerud
  • Antonius Van Helvoort

Institusjon(er)

  • Norges teknisk-naturvitenskapelige universitet
  • SINTEF Industri / Materialer og nanoteknologi
  • Ukjent

Presentert på

Scandem 2018

Sted

Copenhagen

Dato

25.06.2018 - 28.06.2018

Arrangør

CEN-DTU/Scandem

År

2018

Vis denne publikasjonen hos Cristin