Til hovedinnhold
Norsk English

Methodology to Improve Strain Measurement in III–V Semiconductors Materials

Les publikasjonen

Kategori

Vitenskapelig artikkel

Oppdragsgiver

  • Research Council of Norway (RCN) / 197405
  • Research Council of Norway (RCN) / 228956

Språk

Engelsk

Forfatter(e)

  • Maryam Vatanparast
  • Per Erik Vullum
  • Turid Worren Reenaas
  • Randi Holmestad
  • Magnus Kristofer Nord

Institusjon(er)

  • Norges teknisk-naturvitenskapelige universitet
  • SINTEF Industri / Materialer og nanoteknologi
  • University of Glasgow

År

2017

Publisert i

Microscopy and Microanalysis

ISSN

1431-9276

Årgang

23

Hefte nr.

S1

Side(r)

1416 - 1417

Vis denne publikasjonen hos Cristin