Methodology to Improve Strain Measurement in III–V Semiconductors Materials
Les publikasjonen
Kategori
Vitenskapelig artikkel
Oppdragsgiver
- Research Council of Norway (RCN) / 197405
- Research Council of Norway (RCN) / 228956
Språk
Engelsk
Forfatter(e)
- Maryam Vatanparast
- Per Erik Vullum
- Turid Worren Reenaas
- Randi Holmestad
- Magnus Kristofer Nord
Institusjon(er)
- Norges teknisk-naturvitenskapelige universitet
- SINTEF Industri / Materialer og nanoteknologi
- University of Glasgow
År
2017Publisert i
Microscopy and Microanalysis
ISSN
1431-9276
Årgang
23
Hefte nr.
S1
Side(r)
1416 - 1417