Grain Boundary Segregation of Copper Impurity in Bicrystal Silicon
Kategori
Vitenskapelig foredrag
Språk
Engelsk
Institusjon(er)
- SINTEF Industri / Metallproduksjon og prosessering
- Ukjent
Presentert på
1st International Conference on Computational Design and Simulation of Materials
Sted
Shenyang
Dato
17.08.2015 - 20.08.2015
Arrangør
Institute of Metal Research, Chinese Academy of Science