Til hovedinnhold
Norsk English

Thermomechanical reliability of gold stud bump bonding for large volume MEMS devices

Kategori

Vitenskapelig foredrag

Oppdragsgiver

  • EU / HYPERCONNECT FP7-NMP-310420
  • EU / HyperConnect FP7-NMP-310420

Språk

Engelsk

Forfatter(e)

Institusjon(er)

  • SINTEF Digital / Smart Sensors and Microsystems
  • Østerrike
  • Belgia
  • Malta

Presentert på

Electronic Components and Technology Conference (ECTC) , 2015 IEEE 65th

Sted

San Jose

Dato

26.05.2015 - 29.05.2015

Arrangør

IEEE

År

2015

Vis denne publikasjonen hos Cristin