Til hovedinnhold

Karakterisering og modellering av avanserte materialer

Karakterisering og modellering av avanserte materialer

Vår evne til å utvikle nye eller forbedrede materialer og prosesser er i stor grad avhengig av tilgjengelighet av god eksperimentell og numerisk infrastruktur. Moderne laboratorier og numeriske modeller er nødvendig for å kunne beskrive og forstå relasjonen mellom sammensetning og struktur av materialer og materialets egenskaper, og hvordan denne relasjonen påvirkes av prosesseringsparametre. Verktøyene blir også ofte brukt til å forstå hvorfor materialer degraderer eller svikter etter å ha blitt tatt i bruk.

SINTEF har tilgang til et bredt spekter av state-of-the-art karakteriseringslaboratorier og modelleringsverktøy, enten gjennom egne fasiliteter eller gjennom partnerskap med andre forskningsinstitusjoner. Eksempler av slike partnerskap er de nasjonale utstyrsfasilitetene NORTEM (Norwegian Centre for Transmission Electron Microcopy) og NICE (National Surface and Interface Characterisation Laboratory), begge under ledelse av SINTEF.

Vi tilbyr blant annet kompetanse innen:

  • Atomskala-modellering, mikrostruktur- modellering, termodynamisk modellering og multi-skala modellering.
  • Høy oppløsning strukturell analyse av materialer ved hjelp av SEM/TEM, røntgen diffraksjon/absorpsjon og assosierte teknikker.
  • Kjemisk karakterisering av overflater ved hjelp av XPS, AES, SIMS, GD-MS and GD-OES.
  • Analyse av overflatetopografi med høy presisjon ved hjelp av AFM, WLI.
  • Kjemisk- og struktur-analyse av enkle og blandede materialer ved hjelp av NMR.
  • Kjemisk analyse ved hjelp av LC/GC/FTICR-MS.

Relevante lenker:
Faggruppe for Materialfysikk - i Oslo
, SINTEF Materialer og kjemi

Forskningsleder