Til hovedinnhold

Karakterisering av silisium for solceller og mikroelektronikk

Karakterisering av silisium for solceller og mikroelektronikk

SINTEF tilbyr fasiliteter for karakterisering av kvalitetsparameter for silisium til solcelle- og elektronikkformål.

Våre tjenester og kunder:
Innen feltet silisium for solceller jobber SINTEF direkte mot industrikunder og i brede konsortia som inkluderer både industri og andre forskningsinstitusjoner. Målet for aktiviteten er både å bygge opp fundamental kompetanse og å løse spesifikke prosessrelaterte utfordringer hos kundene. Vi har bygd opp en park av karakteriseringsutstyr spesifikt for solcellesilisium siden vi startet aktiviteten rundt år 2000, og vi har også svært mange mer generiske metoder som er nyttige for studier av solcellesilisium.

Eksempler på karakteriseringsmetoder vi benytter:

  • •Mikrostruktur: Etsing av defekter i multi- og monokrystallinsk silisium; automatisk kvantifisering (PVScan) og manuell analyse. Krystallorientering og korngrenser vha EBSD. TEM.
  • Forurensninger: Oksygen- og karboninnhold vha FTIR, IGFA/CIA. Massespektrometri (GDMS, ICP-MS), Auger-mikroskopi, EPMA/EDS, XRF/XPSMekaniske egenskaper: Bøyetesting (wafere), hardhet (inntrykk), trekkspenning (høy-temperatur)
  • Elektriske egenskaper: Levetid (CDI, µW-PCD, QSSPC/TPC), ledningsevne (4-punktsprobe og eddy-current scanning), PL-scanning (bånd-til-bånd, høyoppløst), Lateral scanning av fotospenning (LPS), EBIC, LBIC

Typiske oppdrag for oss er:

  • Kombinerte krystalliserings- og karakteriseringsoppdrag: Vi lager en krystall i en av våre krystalliseringsovner etter kundens anvisninger og karakteriserer relevante materialegenskaper
  • Analyse av eksternt produserte prøver
  • Samarbeidsprosjekter mellom industri og forskningsinstitusjoner, støttet av Forskningsrådet eller EU