Til hovedinnhold

Karakteriaseringsteknikker

Karakteriaseringsteknikker

Forskningsleder

For å studere og forstå kompliserte materialegenskaper, bruker Laboratoriet for avansert materialkarakterisering et utvalg av avanserte karakteriseringsteknikker. Teknikkene gjøre det mulig å studere materialer fra makro og ned til atomistisk skala.

Karakteriseringsteknikker

Lysmikroskopi (LM)

  • Makroskopisk
  • Lystransmisjonsmikroskopi
  • Lysrefleksjonsmikroskopi

Elektronmikroskopi

  • Sveipeelektronmikroskopi (SEM)
  • (Sveipe-) transmisjonselektronmikroskopi (S-TEM)

Sammensetning og kjemisk overflateanalyse

  • Røntgenfotoelektronspektroskopi (XPS)
  • Sekundærionbasert massespektrometri (SIMS)

Overflatemorfologi og -topografi

  • Hvitlysinterferometri (WLI)
  • Atomkraftmikroskopi (AFM)
  • Måling av kjemisk sammensetning av bulk materiale
  • EDS (Energidispersiv spektroskopi) i SEM og (S-)TEM
  • Prøvepreparering
  • Kutting og polering av materialer og prøver

Kryogenisk kulemaling

Infrastruktur nettverk:

Prosjekter:

  • SunSic
  • NanoSol
  • Heterosolar

Infrastruktur nettverk:

Prosjekter:

  • SunSic
  • NanoSol
  • Heterosolar