Til hovedinnhold

Avansert materialkarakterisering - laboratorium

Avansert materialkarakterisering - laboratorium

Publisert 20. november 2017

Vårt laboratorium for avansert materialkarakterisering i Oslo utvikler teknikker og benytter avansert eksperimentell infrastruktur i de nasjonale senterne NORTEM, NICE og NORFAB. Vi bruker også de nasjonale tungregnefasilitetene i Sigma2 og grunnleggende materiellkompetanse for å løse kompliserte materialproblemstillinger. Denne kombinasjonen av teknikker gjør oss i stand til å bestemme struktur, kjemisk sammensetning og materialrespons fra atomært nivå til millimeter-skala.

XPS
Ingvild Thue Jensen på XPS. Foto: SINTEF / Werner Juvik

Vårt laboratorium for avansert materialkarakterisering i Oslo utvikler teknikker og benytter avansert eksperimentell infrastruktur i de nasjonale senterne NORTEM, NICE og NORFAB. Vi bruker også de nasjonale tungregnefasilitetene i Sigma2 og grunnleggende materiellkompetanse for å løse kompliserte materialproblemstillinger. Denne kombinasjonen av teknikker gjør oss i stand til å bestemme struktur, kjemisk sammensetning og materialrespons fra atomært nivå til millimeter-skala

Vår strategi er:
Å utvikle og kombinere eksperimentelle og teoretiske metoder for å gi innblikk i grunnleggende fysiske materialegenskaper. Vi bruker vår generiske ekspertise til å løse problemer for relevante industrielle anvendelser og til å adressere fremtidige materialutfordringer.

Vi svarer på spørsmål som "Fungerte eksperimentet mitt?", "Hvorfor virker ikke dette materialet som det skal?" eller "Hva gikk galt under syntesen av dette materialet?" For å oppnå dette, er det avgjørende å identifisere materialstrukturen og -sammensetningen. Vi benytter en rekke teknikker basert på mikroskopi, spektroskopi og spektrometri.

Ved hjelp av våre lys- og elektronmikroskoper kan vi avbilde materialer fra millimeternivå og ned til atomær skala i detalj. Den kjemiske sammensetningen av prøven kan måles i bulk og på overflater ved hjelp av elektroner, røntgenstråler eller ioner med spektroskopiske og spektrometriske teknikker. Overflatetopografien kan måles og visualiseres ved hjelp av optisk interferometri eller atomkraftmikroskopi.

Hvis den interessante delen er dypt inne i prøven, kan vi lage et polert tverrsnitt som gjør det mulig å inspisere nesten alt materiale inne i prøven.

Vi jobber med et bredt spekter av materialer, inkludert polymerer, metaller, keramiske materialer, kompositter, hybridmaterialer og elektronikkomponenter i bulk, som pulver eller som tynne filmer.

Vi bruker avansert materialkarakterisering for en rekke målrettede anvendelsesområder:

  • Metallurgisk, prosess-, kjemisk, konstruksjons- og elektronikkindustri
  • Medisinsk teknologi
  • Energiteknologi
  • Miljøteknologi
  • Katalyse
  • Nanoteknologi
  • Oksidasjon, korrosjon, degenerering av bulk og overflater
  • Overflatemodifisering, målinger av filmtykkelse, tynn og ultratynn filmteknologi
Forskningsleder

Infrastruktur nettverk:

Prosjekter:

  • SunSic
  • NanoSol
  • Heterosolar

Kontakt

Visiting address:
Forskningsveien 1, Oslo

Contact person:
Spyridon Diplas, Mobil: 982 30 427, Epost: Spyros.Diplas@sintef.no

Prosjekter