Optiske målesystemer og dataanalyse

Lys bærer informasjon om objekters kjemiske og fysiske egenskaper og stadig oftere foretrekkes optikk for raske og kontaktfrie målinger. Avdelingen lager industrielle løsninger basert på kompetanse innen optikk, spektroskopi, belysning, bildeanalyse og dataanalyse.

Postadresse:
SINTEF IKT
PB 124 Blindern
0314 Oslo

Besøksadresse Oslo:
Forskningsveien 1
0313 Oslo
Veibeskrivelse (pdf)

Besøksadresse Trondheim:
Høgskoleringen 5

Forskningssjef: Mats Carlin