Hjem til forsiden
Optiske målesystemer og dataanalyse
Lys bærer informasjon om objekters kjemiske og fysiske egenskaper og stadig oftere foretrekkes optikk for raske og kontaktfrie målinger. Avdelingen lager industrielle løsninger basert på kompetanse innen optikk, spektroskopi, belysning, bildeanalyse og dataanalyse.

Postadresse:
SINTEF IKT
PB 124 Blindern
0314 Oslo

Besøksadresse:
Forskningsveien 1
0313 Oslo
Veibeskrivelse (pdf)

Forskningssjef: Mats Carlin